Kompakt-Rasterelektronenmikroskop für hochauflösende Abbildung und Charakterisierung
TED notice 657948-2026, procedure EU-OV/2026-147
Überblick
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein kompaktes Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll einfach zu bedienen und wartungsarm sein. Die Bekanntmachung verlangt drei vergleichbare Referenzaufträge aus den letzten drei Geschäftsjahren, einen Jahresumsatz von 232.000 € im maßgeblichen Geschäftsbereich und eine Berufshaftpflicht mit Mindestdeckung je Schadenfall von 1.000.000 € für Personenschäden, 500.000 € für Sach- und Umweltschäden sowie 100.000 € für Vermögensschäden. Es handelt sich um ein offenes Verfahren mit einem Los für Labor-, optische und Präzisionsgeräte. Angebotsfrist ist der 27. Oktober 2026 um 10:00 Uhr UTC+01:00. Bewertet wird der Gesamtangebotspreis netto. Die Bekanntmachung setzt eine Bruttokostengrenze von 131.000 € einschließlich gesetzlicher Umsatzsteuer; dies ist eine Höchstgrenze und kein geschätzter Auftragswert. Die technischen Mindestanforderungen stehen in Anlage 2, die nicht Teil dieser Bekanntmachungsprüfung ist.
Informationen aus der öffentlichen Bekanntmachung
Fragen zur Ausschreibung
Was der Auftraggeber benötigt
Beschaffung eines kompakten Rasterelektronenmikroskops zur Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern; einfache Bedienung und geringer Wartungsaufwand sind als Eigenschaften genannt.
- Das Angebot muss die Mindestanforderungen erfüllen; die technischen Einzelheiten stehen in Anlage 2.
- Die Bekanntmachung verlangt drei vergleichbare Referenzaufträge aus den letzten drei Geschäftsjahren und nennt finanzielle sowie versicherungsbezogene Eignungsnachweise.
- Eine Vorauszahlung gegen Bankbürgschaft ist vorgesehen; Einzelheiten zur Bürgschaft stehen in den Vergabeunterlagen.
- Der einschlägige Geschäftsbereich muss einen Jahresumsatz von 232.000 € aufweisen. Die Berufshaftpflicht muss je Schadenfall mindestens 1.000.000 € für Personenschäden, 500.000 € für Sach- und Umweltschäden und 100.000 € für Vermögensschäden abdecken; die Höchstleistung muss sich mindestens zweifach je Versicherungsjahr maximieren. Falls erforderlich, ist der Versicherungsschutz im Zuschlagsfall zu erhöhen.
Lose
LOT-0001 ·Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
Details
- Auftraggeber
- Friedrich-Schiller-Universität Jena
- Land
Deutschland
- Verfahren
- VgV
- Klassifizierung
- In der Bekanntmachung nicht angegeben
- Bekanntmachungsreferenz
- evergabe-online:893108
- Menge und Leistungsumfang
- Ein kompaktes Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern.
- Angebotsfrist
- 27. Oktober 2026, 10:00 Uhr UTC+01:00 (09:00 UTC)
- Bruttokostengrenze
- 131.000 € einschließlich gesetzlicher Umsatzsteuer; ein geschätzter Auftragswert ist nicht angegeben.
- Eignungsanforderungen
- 232.000 € Jahresumsatz im einschlägigen Geschäftsbereich und die genannten Mindestdeckungssummen sind vorgesehen.
Was in den Vergabeunterlagen zu prüfen ist
- Die technischen Mindestparameter aus Anlage 2 sind im Bekanntmachungstext nicht enthalten und wurden nicht geprüft. Die Bruttogrenze von 131.000 € ist eine Höchstgrenze, kein geschätzter Auftragswert.
Originalbekanntmachung
Originalbeschreibung lesen
Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
Offizielle Quelle: TED notice 657948-2026, procedure EU-OV/2026-147 ↗
https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=893108
Quelle abgerufen: 2026-10-14T08:41:09.612599Z