# Public tenders Canonical results: https://zephior.com/fr/tenders?categories=semiconductor-testing-equipment 1 matching notices. Page 1. Filter semantics: OR within a filter, AND across filters and text search. Omitted statuses use active defaults; [] includes all statuses. --- title: "Système semi-automatique de test de plaquettes pour la caractérisation de plaquettes de 200 mm" canonical: "https://zephior.com/fr/tenders/e0a62d2c-0cfc-49cc-81f2-7dab79e280c0/semi-automatic-wafer-prober-system-for-characterization-of-200-mm-wafers-e0a62d2c" last-updated: 2026-10-14T19:45:16.949569+00:00 --- # Système semi-automatique de test de plaquettes pour la caractérisation de plaquettes de 200 mm IHP GmbH - Leibniz-Institut für Innovative Mikroelektronik recherche un système semi-automatique de test de plaquettes pour caractériser des plaquettes de 200 mm. L’avis officiel TED est identifié comme un avis de mise en concurrence sous la référence 670077-2026. La page récupérée lors de cette vérification affichait l’identité de l’avis, mais pas les détails substantiels du marché ; les exigences techniques, la quantité, la livraison, les critères d’attribution et le montant ne sont donc pas disponibles ici. - Status: open - Country: DE - Buyer: IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik - Submission deadline: 2026-10-28T23:00:00+00:00 (instant) - Original notice: https://ted.europa.eu/en/notice/-/detail/670077-2026 - Source checked: 2026-10-14T19:42:51.221684Z ## Source-backed public facts ```json { "id": "e0a62d2c-0cfc-49cc-81f2-7dab79e280c0", "revision": 1, "modifiedAt": "2026-10-14T19:45:16.949569+00:00", "sourceCheckedAt": "2026-10-14T19:42:51.221684Z", "stale": false, "url": "https://zephior.com/fr/tenders/e0a62d2c-0cfc-49cc-81f2-7dab79e280c0/semi-automatic-wafer-prober-system-for-characterization-of-200-mm-wafers-e0a62d2c", "locale": "fr", "title": "Système semi-automatique de test de plaquettes pour la caractérisation de plaquettes de 200 mm", "summary": "IHP GmbH - Leibniz-Institut für Innovative Mikroelektronik recherche un système semi-automatique de test de plaquettes pour caractériser des plaquettes de 200 mm. 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