# Public tenders

Canonical results: https://zephior.com/de/tenders?categories=semiconductor-characterization-equipment

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title: "Halbautomatischer Wafer-Prober zur Charakterisierung von 200-mm-Wafern"
canonical: "https://zephior.com/de/tenders/ab4807ac-5cdd-4dac-b0d9-b737aed9eeb6/halbautomatischer-wafer-prober-zur-charakterisierung-von-200-mm-wafern"
last-updated: 2026-10-13T12:06:19.010653+00:00
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# Halbautomatischer Wafer-Prober zur Charakterisierung von 200-mm-Wafern

Die IHP GmbH – Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik sucht ein halbautomatisches Wafer-Prober-System zur Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Der verfügbare Quelleneintrag nennt eine offene VgV-Ausschreibung und den 29. Oktober 2026 als Fristdatum. Die verknüpfte Vergabeplattform Brandenburg lieferte nur eine allgemeine Seite ohne eindeutig passende Bekanntmachung; technische Spezifikationen, Menge, Wert, genaue Uhrzeit und detaillierte Teilnahmebedingungen sind nicht verifiziert.

- Status: open
- Country: DE
- Buyer: IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Submission deadline: 2026-10-29 (date)
- Original notice: https://vergabemarktplatz.brandenburg.de/VMPSatellite/public/company/projectForwarding.do?pid=260683
- Source checked: 2026-10-13T11:58:23.101871Z

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